LED封裝缺陷檢測(cè)方法研究
文章出處:未知責(zé)任編輯:三昆科技人氣:發(fā)表時(shí)間:2021-03-08 10:07
LED芯片封裝缺陷檢測(cè)方法是通過檢測(cè)LED支架回路光電流間接實(shí)現(xiàn)的。 在具有不同磁芯結(jié)構(gòu)的線圈的兩端,由支架環(huán)的光電流激發(fā)的磁場是不同的感生電動(dòng)勢(shì)大小; 對(duì)于具有不同磁芯結(jié)構(gòu)的線圈,檢測(cè)信號(hào)的信噪比差異很大。 具體性能如下:
一:對(duì)于焊接質(zhì)量合格的LED,實(shí)驗(yàn)檢測(cè)值與理論計(jì)算值一致。 圖5(a)顯示了使用帶狀卷鐵芯的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。 在封裝過程中,焊接合格的LED時(shí),信號(hào)檢測(cè)端產(chǎn)生的光激發(fā)信號(hào)被放大,濾波,峰值檢測(cè),幅值約為60mV。 選擇12mil黃色LED芯片計(jì)算理論值,切屑面積A = 0.3mm×0.3mm,取β= 0.5。 當(dāng)半導(dǎo)體材料在單位時(shí)間內(nèi)吸收的每單位
面積的平均光強(qiáng)度(以光子數(shù)為單位)為5.45×1021 /m2s時(shí)時(shí),可以根據(jù)公式(1)計(jì)算光生電流為 約42μA。 根據(jù)Biot-Savart定理,疊加定理和法拉第電磁感應(yīng)定律,12mil黃色LED芯片in信號(hào)檢測(cè)端感生電動(dòng)勢(shì)的幅度約為63mV,消除了實(shí)驗(yàn)誤差和計(jì)算誤差。 理論值與實(shí)驗(yàn)值吻合良好。
二:對(duì)于環(huán)形鐵心線圈,實(shí)驗(yàn)值小于理論值。 根據(jù)公式(8),對(duì)于帶狀結(jié)構(gòu)的磁芯線圈,假設(shè)磁芯的有效磁路長度le = 100lg,這時(shí)有效磁導(dǎo)率μe≈100。 如果將磁芯改變?yōu)榄h(huán)形,則此時(shí)非閉合氣隙長度lg≈0,此時(shí)有效磁導(dǎo)率μe≈μr=2300。 根據(jù)理論計(jì)算,具有合格焊接質(zhì)量的1200萬黃光LED在信號(hào)檢測(cè)端感生電動(dòng)勢(shì)時(shí)的振幅約為1.4V。 從圖5(b)可以看出,實(shí)驗(yàn)信號(hào)值約為220mV,實(shí)驗(yàn)值遠(yuǎn)小于理論值。 以上計(jì)算是在理想條件下進(jìn)行的。 在實(shí)際的實(shí)驗(yàn)過程中,環(huán)形鐵芯線圈是通過將U形磁芯和條形磁芯重疊而形成的。 重疊氣隙lg仍然存在,因此磁路不存在。它可能已完全閉合。 根據(jù)公式(8),氣隙對(duì)有效磁導(dǎo)率有很大的影響,因此有效磁導(dǎo)率仍小于相對(duì)磁導(dǎo)率。 因此,實(shí)驗(yàn)值遠(yuǎn)小于理論值。
三:不同的磁芯結(jié)構(gòu)可以實(shí)現(xiàn)LED封裝缺陷的檢測(cè),但是檢測(cè)信號(hào)的信噪比卻大不相同。 從圖5可以看出,雖然實(shí)驗(yàn)中的磁芯線圈具有不同的結(jié)構(gòu),但焊接質(zhì)量合格的LED的光激發(fā)檢測(cè)信號(hào)明顯大于非金屬的LED的光激發(fā)檢測(cè)信號(hào)。 在封裝過程中會(huì)在芯片電極表面上形成一層薄膜。 通過比較兩者之間的檢測(cè)信號(hào)幅度的大小,可以在封裝過程中拾取芯片電極表面帶有非金屬膜的LED。 對(duì)于圖5(a),實(shí)驗(yàn)中使用的線圈磁芯具有帶狀結(jié)構(gòu),并且氣隙lg,磁感應(yīng)強(qiáng)度B的增強(qiáng)因子為有效磁導(dǎo)率μe。 同時(shí),檢測(cè)信號(hào)容易受到外部干擾,因此檢測(cè)信號(hào)的幅度相對(duì)較高。 較大的檢測(cè)噪聲使得兩個(gè)芯片的光激勵(lì)信號(hào)的信噪比較小,這給后端信號(hào)處理帶來了困難,并影響了封裝缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確性。 線圈中的磁芯重疊成一個(gè)環(huán)路,形成一個(gè)閉合的磁路,磁感應(yīng)強(qiáng)度B得到有效增強(qiáng),磁損耗較小,并且來自空間電磁場的干擾相對(duì)較小,因此信號(hào)對(duì) 大大提高了檢測(cè)信號(hào)的噪聲比。四:不同的磁芯結(jié)構(gòu)會(huì)影響諧振電路的工作頻率。 在實(shí)驗(yàn)過程中,LC諧振回路的電容C相等,環(huán)形磁芯的有效磁導(dǎo)率大于帶狀磁芯的有效磁導(dǎo)率,因此環(huán)形磁芯線圈的電感L大于環(huán)形磁芯的電感L。 帶狀芯線圈,因此其諧振電路諧振頻率較??; 從圖5可以看出,由條形芯線圈形成的諧振電路的諧振頻率約為9.75kHz,而由環(huán)形芯線圈形成的諧振電路的諧振頻率約為7.33kHz。
五:可以獲得理論分析和實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析。 該方法對(duì)LED支架回路電流具有很高的檢測(cè)精度。 通過檢測(cè)由支架回路電流激發(fā)的磁場,在線圈的兩端感應(yīng)出電動(dòng)勢(shì)的大小,并進(jìn)行焊接。比較合格的LED的檢測(cè)信號(hào),以實(shí)現(xiàn)對(duì)在封裝過程中存在封裝缺陷的LED的檢測(cè)。 包裝過程。
一:對(duì)于焊接質(zhì)量合格的LED,實(shí)驗(yàn)檢測(cè)值與理論計(jì)算值一致。 圖5(a)顯示了使用帶狀卷鐵芯的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。 在封裝過程中,焊接合格的LED時(shí),信號(hào)檢測(cè)端產(chǎn)生的光激發(fā)信號(hào)被放大,濾波,峰值檢測(cè),幅值約為60mV。 選擇12mil黃色LED芯片計(jì)算理論值,切屑面積A = 0.3mm×0.3mm,取β= 0.5。 當(dāng)半導(dǎo)體材料在單位時(shí)間內(nèi)吸收的每單位
面積的平均光強(qiáng)度(以光子數(shù)為單位)為5.45×1021 /m2s時(shí)時(shí),可以根據(jù)公式(1)計(jì)算光生電流為 約42μA。 根據(jù)Biot-Savart定理,疊加定理和法拉第電磁感應(yīng)定律,12mil黃色LED芯片in信號(hào)檢測(cè)端感生電動(dòng)勢(shì)的幅度約為63mV,消除了實(shí)驗(yàn)誤差和計(jì)算誤差。 理論值與實(shí)驗(yàn)值吻合良好。
二:對(duì)于環(huán)形鐵心線圈,實(shí)驗(yàn)值小于理論值。 根據(jù)公式(8),對(duì)于帶狀結(jié)構(gòu)的磁芯線圈,假設(shè)磁芯的有效磁路長度le = 100lg,這時(shí)有效磁導(dǎo)率μe≈100。 如果將磁芯改變?yōu)榄h(huán)形,則此時(shí)非閉合氣隙長度lg≈0,此時(shí)有效磁導(dǎo)率μe≈μr=2300。 根據(jù)理論計(jì)算,具有合格焊接質(zhì)量的1200萬黃光LED在信號(hào)檢測(cè)端感生電動(dòng)勢(shì)時(shí)的振幅約為1.4V。 從圖5(b)可以看出,實(shí)驗(yàn)信號(hào)值約為220mV,實(shí)驗(yàn)值遠(yuǎn)小于理論值。 以上計(jì)算是在理想條件下進(jìn)行的。 在實(shí)際的實(shí)驗(yàn)過程中,環(huán)形鐵芯線圈是通過將U形磁芯和條形磁芯重疊而形成的。 重疊氣隙lg仍然存在,因此磁路不存在。它可能已完全閉合。 根據(jù)公式(8),氣隙對(duì)有效磁導(dǎo)率有很大的影響,因此有效磁導(dǎo)率仍小于相對(duì)磁導(dǎo)率。 因此,實(shí)驗(yàn)值遠(yuǎn)小于理論值。
三:不同的磁芯結(jié)構(gòu)可以實(shí)現(xiàn)LED封裝缺陷的檢測(cè),但是檢測(cè)信號(hào)的信噪比卻大不相同。 從圖5可以看出,雖然實(shí)驗(yàn)中的磁芯線圈具有不同的結(jié)構(gòu),但焊接質(zhì)量合格的LED的光激發(fā)檢測(cè)信號(hào)明顯大于非金屬的LED的光激發(fā)檢測(cè)信號(hào)。 在封裝過程中會(huì)在芯片電極表面上形成一層薄膜。 通過比較兩者之間的檢測(cè)信號(hào)幅度的大小,可以在封裝過程中拾取芯片電極表面帶有非金屬膜的LED。 對(duì)于圖5(a),實(shí)驗(yàn)中使用的線圈磁芯具有帶狀結(jié)構(gòu),并且氣隙lg,磁感應(yīng)強(qiáng)度B的增強(qiáng)因子為有效磁導(dǎo)率μe。 同時(shí),檢測(cè)信號(hào)容易受到外部干擾,因此檢測(cè)信號(hào)的幅度相對(duì)較高。 較大的檢測(cè)噪聲使得兩個(gè)芯片的光激勵(lì)信號(hào)的信噪比較小,這給后端信號(hào)處理帶來了困難,并影響了封裝缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確性。 線圈中的磁芯重疊成一個(gè)環(huán)路,形成一個(gè)閉合的磁路,磁感應(yīng)強(qiáng)度B得到有效增強(qiáng),磁損耗較小,并且來自空間電磁場的干擾相對(duì)較小,因此信號(hào)對(duì) 大大提高了檢測(cè)信號(hào)的噪聲比。四:不同的磁芯結(jié)構(gòu)會(huì)影響諧振電路的工作頻率。 在實(shí)驗(yàn)過程中,LC諧振回路的電容C相等,環(huán)形磁芯的有效磁導(dǎo)率大于帶狀磁芯的有效磁導(dǎo)率,因此環(huán)形磁芯線圈的電感L大于環(huán)形磁芯的電感L。 帶狀芯線圈,因此其諧振電路諧振頻率較??; 從圖5可以看出,由條形芯線圈形成的諧振電路的諧振頻率約為9.75kHz,而由環(huán)形芯線圈形成的諧振電路的諧振頻率約為7.33kHz。
五:可以獲得理論分析和實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析。 該方法對(duì)LED支架回路電流具有很高的檢測(cè)精度。 通過檢測(cè)由支架回路電流激發(fā)的磁場,在線圈的兩端感應(yīng)出電動(dòng)勢(shì)的大小,并進(jìn)行焊接。比較合格的LED的檢測(cè)信號(hào),以實(shí)現(xiàn)對(duì)在封裝過程中存在封裝缺陷的LED的檢測(cè)。 包裝過程。
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